반도체

속도와 샘플링 통한 공정 지식 획득

효과적인 품질 보증은 높은 품질을 달성하는 동시에 비용 효율적인 생산을 보장하는 열쇠입니다. 이는 박막 두께와 균일성의 변화가 제품 품질의 저하 뿐만 아니라 원료의 비효율적인 사용으로 인한 생산 비용 증가로 이어질 수 있는 박막 및 코팅을 사용하는 산업에서는 특히 그러합니다.

정확도와 측정 안정성은 모두 중요하며 NXT 시스템은 정적 및 동적 환경에서 작 동하도록 설계되었습니다. Inline 의 경우 정확도와 측정 안정성이 더욱 중요하며 빠른 측정 속도와 측정 대상까지 거리 변화에 대한 높은 관용성은 생산라인 적용 에 이상적인 시스템입니다.

PCB 샘플의 패턴 위 코팅 측정

NXT는 품질 보증에 필요한 측정 우수성을 제공합니다. 빠른 측정과 안정된 광학 기하학적 구조는 정확하고 포괄적인 공정 피드백을 제공합니다.

박막 두께 측정에 안내된 측정 시스템은 METIS, XELAS입니다. 고객 요구에 따른 맞춤 설계를 제공하며 다양하고 포괄적인 측정 시스템을 제공합니다.

나노미터급(㎚)

METIS OFFLINE/INLINE
XELAS OFFLINE/INLINE
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